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熒光光譜系列
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時間分辨熒光光譜技術的核心是什么？
超快熒光光譜系統的優勢已滲透至多個領域中
時間分辨熒光光譜的數據分析方法
光電流成像技術的原理與應用
提升碳化硅成像檢測系統精度的關鍵技術分析
碳化硅成像檢測的應用領域
科研級寬禁帶半導體綜合表征系統介紹： TPL300-UV同時具備時間分辨、光譜分辨和空間分率功能。系統使用科研級正置顯微鏡和高精度XY位移臺，整體結構穩定,操作簡單,可以實現熒光壽命采集、熒光發射譜采集、熒光強度/壽命成像、SHG成像、拉曼成像等功能。激發波長可全自動程控切換,熒光探測波長可覆蓋紫外200 nm,激發波長可覆蓋紫外206 nm。
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更新時間：2025-09-02
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